连接器检测详解

5 其它电性能检验.
5.1 外壳间电连续性
连接器的接触件可能是电磁干扰源，或是电磁干扰接收者。外部干扰可能侵入连接器而在接触件上感应出电流和电压。反之，连接器接触件上的RF能量可能逸出而干扰邻近的设备。连接器的金属外壳起屏蔽层的作用而降低其接收或发射的干扰。外壳间电连续性检验目的是确定在模拟的使用条件下的电连接器外壳的电连续性，以判定其抵抗外界电磁场干扰性能的优劣。因为连接器设计成能“分离”，因而连接器的插合界面可能形成RF能量进入传输回路或从回路出来的泄漏区试验样品应是装配好插合好的连接器。除非另有规定，在最大1.5V直流电压下，产生1.0±0.1A直流电流通过插合好的连接器外壳。测试时从自由端连接器尾部附件螺纹上一点至固定连接器安装法兰盘来测量组装好插合好的连接器外壳的电阻。应采用半径最小为1.3mm的球端头探针进行连接器外壳上电压降的测量，试验探针不应损伤连接器表面。
5.2 多接触件连接器屏蔽效果
该项试验目的是测量多接触件连接器在1GHz至10GHz频率范围内的屏蔽效果。适用于测量带有金属外壳的多接触件电连接器界面处的泄漏。被试连接器暴露在电磁场中，该电磁场由旋转反射表面（模式搅拌器）以统计随机的方式产生。连接器的泄漏是以测得的屏蔽效果［单位用分贝（dB）］来表示。
5.3 射频同轴连接器的电性能
射频同轴连接器除上述这些电性能指标外，还有一些独特的电性能指标；如特性阻抗、衰减、电压驻波比和反射系数等。这些指标是根据射频传输理论，将射频同轴连接器看作一段特殊的同轴线而规定沟。
在电缆实际应用中特性阻抗非常重要，如果既不允许反射，能量损耗又必须减到最少，则阻抗必须仔细匹配，否则电缆或设备会由于过压而损坏。特性阻抗可由同轴连接器外导体内径与内导体外径的比值和内外导体之间绝缘体的介电常数进行计算求出。同轴连接器标准的特性阻抗有50Ω和75Ω两种，这是考虑射频信号的最大功率传输和尽可能小的反射而综合确定的。
对射频同轴连接器最重要的性能要求是阻抗匹配和使用频率范围，而这都和外导体内径、内导体外径和绝缘体介电常数有关。若同轴连接器的特性阻抗与同轴电缆线不匹配，将会在失配处产生信号的反射，反射信号与入射信号叠加将产生驻波。电压驻波比是驻比的最大振幅与最小振幅之比。反射系数是反射波电压（电流）与同一点上的入射波电压（电流）之比。衰减是由于阻抗不匹配在传输信号时发热而产生的损耗。导体由于具有电阻，也是发热的部分原因。在传输低电平信号的电缆中，或效率是相当重要性能的应用场合，应仔细考虑失配衰减。失配衰减是反射系数倒数绝对值的对数，用dB表示。由于它们描述的是同一物理现象。故彼此可以换算。为降低电缆的衰减，通常应把电容减至最小，使用低的损耗系数的绝缘介质和最高导电率的导体。但必须注意在直径不变的同轴电缆中，虽较粗的导体会降低电阻损耗，但一般同时会使交流损耗增加。产生这种损耗增加的原因是由于导体之间电容耦合更紧密所致。在频率较高时，损耗也增加。