标签：芯片测试探针

微米之间见真章：拓普联科芯片测试探针的自主研发与制造实力

在芯片量产前，每一颗 die 都要先在探针台上接受”体检”。探针与 pad 接触的那一瞬间，接触电阻稳不稳、信号有没有失真、针尖有没有刮伤铝垫，直接决定了测试数据可不可信——也决定了良率算得准不准。对晶圆测试厂、探针 […]